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科學(xué)測(cè)試儀的發(fā)展

更新時(shí)間:2013-12-09      點(diǎn)擊次數(shù):1560

科學(xué)測(cè)試儀器隨著高新技術(shù)的發(fā)展,測(cè)試界面臨著新的挑戰(zhàn),尤其是現(xiàn)代航空、航天、水下研究、生物工程、新能源、新材料以及信息技術(shù)領(lǐng)域研究中的許多測(cè)試任務(wù),靠人工往往是無法完成的,因此,從70年代起,測(cè)量工作就開始在計(jì)算機(jī)的輔助下進(jìn)行,借助微處理機(jī),使一臺(tái)儀器除物理層和數(shù)據(jù)處理層外,又增加了知識(shí)處理層,從而使其能自動(dòng)校正零點(diǎn)、自動(dòng)補(bǔ)償溫漂,提高測(cè)量精度,繪出比較理想的測(cè)試結(jié)果,促使測(cè)試儀器的技術(shù)水平上了一個(gè)新的臺(tái)階。

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